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新2备用网址/2020-04-15/ 分类:科技/阅读:

本发明的各个示例性实施例总体涉及一种存储器系统。特别地,实施例涉及一种处理关于存储器装置的数据的存储器系统及其操作方法。



背景技术:

计算机环境范例已经转变成使计算机系统可随时随地使用的普适计算。因此,诸如移动电话、数码相机和笔记本电脑/膝上型计算机的便携式电子装置的使用已经迅速增加。这些便携式电子装置通常使用具有一个或多个存储器装置的存储器系统来存储数据。存储器系统可用作便携式电子装置的主存储装置或辅助存储装置。

因为这种存储器系统没有移动部件,所以它们可提供优良的稳定性、耐用性、高信息存取速度以及低功耗。具有这种优点的存储器系统的示例包括通用串行总线(usb)存储器装置、具有各种接口的存储卡以及固态驱动器(ssd)。



技术实现要素:

各个实施例涉及一种存储器系统及其操作方法,其能够使存储器系统的复杂性和性能劣化最小化并且使存储器装置的使用效率最大化,从而快速且稳定地处理关于存储器装置的数据。

在实施例中,一种存储器系统可包括:存储器装置,包括多个存储块,每一个存储块具有多个页面;以及控制器,适于控制存储器装置以在页面中执行编程操作,存储器装置可检查被编程页面的编程电压分布,并且可检查被编程页面中的失效位,并且控制器可确认编程操作中的部分编程成功,并且可在存储块中对对应于部分编程成功的第一数据执行复制操作。

存储器装置可检查各个编程电压分布的失效位,可对各个编程电压分布的失效位的失效位数量进行计数,并且可根据失效位数量来确认部分编程成功。

存储器装置可对各个编程电压分布组的各个编程电压分布的失效位数量进行求和,并且可将求和失效位数量小于阈值的编程电压分布组确认为对应于部分编程成功的部分成功编程电压分布组。

存储器装置可通过将第一编程电压分布组的第一求和失效位数量、第二编程电压分布组的第二求和失效位数量和第三编程电压分布组的第三求和失效位数量进行求和,来对各个编程电压分布组的各个编程电压分布的失效位数量进行求和。

第一编程电压分布组可包括与存储块中的最低有效位(lsb)页面相对应的编程电压分布,第二编程电压分布组可包括与存储块中的中央有效位(csb)页面相对应的编程电压分布,并且第三编程电压分布组可包括与存储块中的最高有效位(msb)页面相对应的编程电压分布。

阈值可表示控制器的最大错误校正能力。

控制器可从存储器装置接收指示部分编程成功的状态信号,可对应于该状态信号确认编程操作中的部分编程成功,可识别对应于部分成功编程电压分布组的第一存储块的第一页面,并且读取存储在第一页面中的第一数据并对存储在第一页面中的第一数据进行错误校正。

控制器可控制存储器装置以将被错误校正的第一数据存储在第一存储块的第二页面和第二存储块的第一页面中的至少一个中。

第一数据可以是存储在第一页面中的整个数据和存储在第一页面之中包括失效位的页面中的数据中的一个。

存储器装置可检查编程电压分布之中的最高电平编程电压分布,并且当最高电平编程电压分布是通过(pass)时,可检查剩余编程电压分布中的失效位。

存储器系统可进一步包括:检查部件,适于通过电流感测电路(csc)检查存储块中的编程电压分布,并将指示部分编程成功的状态信号输出到控制器,并且可包括:操作检查部件,包括电流感测电路,并适于检查编程电压分布;计数器,适于对编程电压分布中的失效位进行计数;求和部件,适于对所计数的失效位的失效位数量进行求和;比较器,适于将失效位数量的求和失效位数量与阈值进行比较;以及存储装置,适于存储失效位数量、求和失效位数量和阈值。

在实施例中,一种操作存储器系统的方法可包括:对包括多个存储块的存储器装置执行编程操作,每一个该存储块具有多个页面;检查被编程页面的编程电压分布;检查被编程页面中的失效位;对应于编程操作中的失效位,确认部分编程成功;并且在存储块中对对应于部分编程成功的第一数据执行复制操作。

检查失效位可包括:检查各个编程电压分布的失效位;对各个编程电压分布的失效位的失效位数量进行计数;并且对各个编程电压分布组的各个编程电压分布的失效位数量进行求和。

确认部分编程成功可包括:根据失效位数量确认部分编程成功;并且将求和失效位数量小于阈值的编程电压分布组确认为对应于部分编程成功的部分成功编程电压分布组。

阈值可表示存储器装置的控制器的最大错误校正能力。

执行复制操作可包括:对应于指示部分编程成功的状态信号识别对应于部分成功编程电压分布组的第一存储块的第一页面;读取存储在第一页面中的第一数据并对存储在第一页面中的第一数据进行错误校正;并且将被错误校正的第一数据存储在第一存储块的第二页面和第二存储块的第一页面中的至少一个中。

第一数据可以是存储在第一页面中的整个数据和存储在第一页面之中包括失效位的页面中的数据中的一个。

对各个编程电压分布组的各个编程电压分布的失效位数量进行求和可包括:对第一编程电压分布组的第一求和失效位数量、第二编程电压分布组的第二求和失效位数量和第三编程电压分布的第三求和失效位数量进行求和。

第一编程电压分布组可包括与存储块中的最低有效位(lsb)页面相对应的编程电压分布,第二编程电压分布组可包括与存储块中的中央有效位(csb)页面相对应的编程电压分布,并且第三编程电压分布组可包括与存储块中的最高有效位(msb)页面相对应的编程电压分布。

检查失效位可包括:检查编程电压分布之中的最高电平编程电压分布,并且当最高电平编程电压分布通过时,检查剩余编程电压分布中的失效位。

在实施例中,一种存储器系统可包括:存储器装置和控制器,其中存储器装置包括:第一和第二逻辑页面;以及外围电路,适于:对第一逻辑页面执行编程和验证操作;当验证操作失败时,执行对第一逻辑页面的失效位数量进行计数的计数操作;并且当失效位数量小于控制器的错误校正能力时,执行将第一逻辑页面的被错误校正的数据编程到第二逻辑页面中的编程操作;并且控制器适于:控制编程、验证、计数和复制操作;确定验证操作是否失败,以及失效位数量是否小于错误校正能力;并且对第一逻辑页面的数据进行错误校正。

附图说明

由参照附图的以下具体实施方式,本发明的这些和其它特征及优点对于本发明所属领域的技术人员将变得显而易见,其中:

图1是示出根据本发明的实施例的包括存储器系统的数据处理系统的框图;

图2是示出图1所示的存储器系统中采用的存储器装置的示例性配置的示意图;

图3是示出图2所示的存储器装置中的存储块的存储器单元阵列的示例性配置的电路图;

图4是示出图2所示的存储器装置的示例性三维结构的示意图;

图5至图9是根据实施例的用于帮助说明存储器系统中的数据处理操作的示意图的示例;

图10是描述根据实施例的存储器系统中处理数据的操作过程的示意性流程图;

图11至图19是示意性示出根据本发明的各个实施例的图1所示的数据处理系统的应用示例的示图。

具体实施方式

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